可测试集成电路
专利权的终止
摘要
一种集成电路(1)，包括具有时钟输出的内部时钟电路(12)，用于为集成电路(1)的功能电路(10)提供时钟。所述集成电路配置有在测试期间使用的计数器电路(16)和状态保持电路(18)。将所述集成电路切换到测试模式，并且发送测试时间间隔开始的信号。从所述测试时间间隔开始的时候，对来自内部时钟电路12的时钟脉冲进行计数，并且如果所述内部时钟电路从所述测试时间间隔开始后已经产生多于预定数目的时钟脉冲，则将状态保持电路(18)锁定至预定状态。从集成电路(1)读出与在所述测试时间间隔中状态保持电路(18)是否已经达到所述预定状态有关的信息，而且测试估计装置(2)使用所述信息来接受或拒绝集成电路(1)。
基本信息
专利标题 ：
可测试集成电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101052887A
申请号 ：
CN200580037881.3
公开（公告）日 ：
2007-10-10
申请日 ：
2005-10-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
史蒂文·H·德库柏格雷姆·弗朗西斯
申请人 ：
皇家飞利浦电子股份有限公司
申请人地址 ：
荷兰艾恩德霍芬
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
朱进桂
优先权 ：
CN200580037881.3
主分类号 ：
G01R31/3185
IPC分类号 ：
G01R31/3185
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
G01R31/08
探测电缆、传输线或网络中的故障
G01R31/14
所用的电路
G01R31/315
使用电感法
G01R31/3185
测试的重新配置，例如LSSD，划分
法律状态
2019-10-18 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01R 31/3185
申请日 : 20051028
授权公告日 : 20100512
终止日期 : 20181028
申请日 : 20051028
授权公告日 : 20100512
终止日期 : 20181028
2015-09-30 ：
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101721532396
IPC(主分类) : G01R 31/3185
专利号 : ZL2005800378813
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : NXP股份有限公司
变更后权利人 : III 控股6有限责任公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 荷兰艾恩德霍芬
变更后权利人 : 美国特拉华州
登记生效日 : 20150908
号牌文件序号 : 101721532396
IPC(主分类) : G01R 31/3185
专利号 : ZL2005800378813
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : NXP股份有限公司
变更后权利人 : III 控股6有限责任公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 荷兰艾恩德霍芬
变更后权利人 : 美国特拉华州
登记生效日 : 20150908
2010-05-12 ：
授权
2008-04-23 ：
专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移)
变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 皇家飞利浦电子股份有限公司
变更后权利人 : NXP股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 荷兰艾恩德霍芬
变更后权利人 : 荷兰艾恩德霍芬
登记生效日 : 20080328
变更前权利人 : 皇家飞利浦电子股份有限公司
变更后权利人 : NXP股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 荷兰艾恩德霍芬
变更后权利人 : 荷兰艾恩德霍芬
登记生效日 : 20080328
2008-01-09 ：
实质审查的生效
2007-10-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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2、
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