集成电路测试仪

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了一种集成电路测试仪，涉及芯片测试装置技术领域。所述测试仪包括单片计算模块，存储模块通过存储空间分配器与所述计算模块双向连接；I/O扩展模块与所述计算模块双向连接；地址产生模块的第一输入端与的输入端与所述计算模块的输出端连接，所述地址产生模块的输出端分别与按键模块的输入端、驱动器的第一输入端以及I/O扩展模块的输入端连接；所述驱动器模块的第二输入端与所述I/O扩展模块的输出端连接，所述驱动器的输出端与被测器件安装插座的输入端连接；显示模块与所述计算模块的信号输出端连接；数据产生模块与所述计算模块的信号输入端连接。所述测试仪能够实现对多种芯片进行测试，功能多样，使用方便。

基本信息

专利标题：

集成电路测试仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920626868.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-05-05

授权号：

CN210051856U

授权日：

2020-02-11

发明人：

冯长江段荣霞李楠郎宾黄天辰刘美全濮霞陶炳坤

申请人：

中国人民解放军陆军工程大学

申请人地址：

河北省石家庄市新华区和平西路97号

代理机构：

石家庄轻拓知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

王占华

优先权：

CN201920626868.0

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28