集成电路测试仪

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了属于电子元器件测试装置范围的一种集成电路测试仪。由稳压电源、脉冲发生器、数字电路测试模块、运算放大器测试模块、晶体管输出特性曲线测试模块、器件测试选择控制和错误告警电路组成；其中数字电路测试模块、运算放大器测试模块、晶体管输出特性曲线测试模块的输出各自通过反接二极管共接一个错误告警电路。该测试仪可以同时测试多个不同类型、不同型号的集成电路芯片，芯片的数量由用户根据需要设定。操作简单，显示明了，达到提高测试效率、大幅度降低测试成本的目的，使之成为一种有效的集成电路测试仪器；具有很高的实用价值和普遍的推广意义，同时价格能够被普通高校接受。

基本信息

专利标题：

集成电路测试仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200720148836.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2007-04-19

授权号：

CN201035124Y

授权日：

2008-03-12

发明人：

阎捷高文焕徐振英张尊侨金平田淑珍刘艳任艳频侯素芳任勇

申请人：

清华大学

申请人地址：

100084北京市100084－82信箱

代理机构：

北京众合诚成知识产权代理有限公司

代理人：

李光松

优先权：

CN200720148836.1

主分类号：

G01R31/303

IPC分类号：

G01R31/303