宽频带集成电路测试仪
被视为撤回的申请
摘要
本发明属于集成电路测试仪。它所提供的这种新型集成电路测试仪比现有的测试仪测试频率更宽，性能好，适应性更强，它能直接产生任何复杂的方波波形，因而控制逻辑和结构也更加简单。特别是它所使用的测试图形可以完全自动生产。这种新型集成电路测试仪取得这些进展的关键在于它采用一种波形积分部件取代常用集成电路测试仪中的波形合成部件。
基本信息
专利标题 ：
宽频带集成电路测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85104809A
申请号 ：
CN85104809
公开（公告）日 ：
1986-05-10
申请日 ：
1985-06-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
朱昌衔
申请人 ：
朱昌衔
申请人地址 ：
北京市苇子坑第十五研究所
代理机构 ：
机械工业部专利服务中心
代理人 ：
唐华
优先权 ：
CN85104809
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
1989-03-15 ：
被视为撤回的申请
1986-05-10 ：
公开
1985-11-10 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
