通用集成电路测试仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本实用新型是属半导体器件检测技术领域。其主要解决集成电路性能检测的技术问题，提供一种通用集成电路测试仪。其主要技术特征在于设计了由44只阻值相同的电阻组成完全相同的两个集成块模拟工作条件，采用运算放大器组成了运算判断和阈值调节电路，由发光二极管显示。其用途是能迅速定性地判断被测集成块的好坏，同时半定量地反映其质量的稳定程度，为集成电路的研究、生产、销售，应用和维修提供了实用测试仪器。
基本信息
专利标题 ：
通用集成电路测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN89220565.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1989-12-01
授权号 ：
CN2062852U
授权日 ：
1990-09-26
发明人 ：
黄烨东
申请人 ：
黄烨东
申请人地址 ：
陕西省西安市南郊吴家坟陕西师大物理系
代理机构 ：
陕西师范大学专利代理事务所
代理人 ：
于富斌
优先权 ：
CN89220565.2
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
1993-10-20 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1991-05-15 ：
授权
1990-09-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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