数字集成电路通用测试装置
授权
摘要
本实用新型揭示了一种数字集成电路通用测试装置，所述数字集成电路通用测试装置包括一底板，并且底板设有用于与待测集成电路连接并固定待测集成电路的插座，其特征在于：所述底板设有用以与外部测试设备连接的连接接口，并且所述底板在插座侧边设有排针母座，并且所述排针母座的接脚与所述连接接口的接脚一一对应连接，同时所述底板上还设有电源接口与接地接口，并且所数字集成电路通用测试装置还包括多个线带插针，所述线带插针一端与所述的电源接口或接地接口连接，另一端与排针母座与待测集成电路电源或接地引脚连接的引脚相连接。
基本信息
专利标题 ：
数字集成电路通用测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122567921.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-25
授权号 ：
CN216560878U
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
赖邵冕张峰郭嘉萍
申请人 ：
中国航空无线电电子研究所
申请人地址 ：
上海市徐汇区桂平路432号
代理机构 ：
上海和跃知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杜林雪
优先权 ：
CN202122567921.4
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R31/317 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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