通用集成电路老化板
授权
摘要
本实用新型涉及一种通用集成电路老化板，包括：老化测试座、电源模块、老化控制模块、配置芯片模块、信号接口模块、状态指示模块和老化转接小板；电源模块、老化控制模块、配置芯片模块、信号接口模块、状态指示模块和老化转接小板均与老化测试座相连；老化测试座用于放置待老化器件，电源模块用于为集成电路老化板提供工作电压，配置芯片模块用于为待老化器件提供配置程序，老化控制模块用于发送老化控制信号和监控待老化器件的输出信号，信号接口模块用于传输集成电路老化板的信号至待老化器件，老化转接小板用于适配待老化器件的型号，节约了老化板的设计时间和成本，有效地提高了对集成电路板的老化效率。
基本信息
专利标题 ：
通用集成电路老化板
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021408633.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-16
授权号 ：
CN213023445U
授权日 ：
2021-04-20
发明人 ：
霍风祥王臣兰金国魏新
申请人 ：
北京京瀚禹电子工程技术有限公司
申请人地址 ：
北京市昌平区沙河镇松兰堡村西海特光电院内办公楼1层102室
代理机构 ：
北京细软智谷知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
尚文文
优先权 ：
CN202021408633.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-04-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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