用于集成电路老化测试的手动测试夹具

授权

摘要

本实用新型公开了一种用于集成电路老化测试的手动测试夹具，包括测试盖、集成电路测试座，测试盖位于集成电路测试座上方，且测试盖能盖合集成电路测试座，测试盖上设置有温度传感器，温度传感器能与集成电路测试座上的待测集成电路上表面接触，温度传感器与测试盖弹性连接，测试盖上设置有对待测集成电路降温的降温元器件、对待测集成电路升温的加热元器件，加热元器件、降温元器件以及温度传感器分别连接到温控设备的控制连接器的第一引脚、第三引脚上，控制连接器的第五引脚和第六引脚上串联有温度传感器，控制连接器的第二引脚、第四引脚接地。本实用新型能有效加热待测集成电路，使集成电路处于符合要求的温度区间的用于集成电路老化测。

基本信息

专利标题：

用于集成电路老化测试的手动测试夹具

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922105069.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-11-29

授权号：

CN211528609U

授权日：

2020-09-18

发明人：

姜扬王传刚

申请人：

法特迪精密科技（苏州)有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市苏州工业园区兴浦路200号5栋#101、102、201、202

代理机构：

无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

丰叶

优先权：

CN201922105069.1

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28