老化测试电路、老化测试装置以及老化测试系统
授权
摘要
本申请公开了一种老化测试电路、老化测试装置以及老化测试系统，通过循环控制模块，在第一时长内循环老化进程，老化进程包括持续第二时长输出第一导通信号和持续第三时长停止输出第一导通信号；开关模块在输入第一导通信号时转接电源电压；N个LED接收卡模块在输入电源电压时显示老化N个LED模组，以及当停止电源电压时断电老化N个LED模组；从而实现对N个LED模组在第一时长内进行循环第二时长的显示老化和第三时长的断电老化，使N个LED模组的老化测试过程与之实际通断电的真实使用场景相近，从而更好地在老化测试过程发现N个LED模组在真实使用时出现的元件不良问题。
基本信息
专利标题 ：
老化测试电路、老化测试装置以及老化测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121213997.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-06-01
授权号 ：
CN216350966U
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
李坤徐勋明夏建平李小明余义江
申请人 ：
惠州市艾比森光电有限公司
申请人地址 ：
广东省惠州市东江高新科技产业园东华南路3号
代理机构 ：
深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
任敏
优先权 ：
CN202121213997.0
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/44 B07C5/344
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-04-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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