IGBT驱动板老化测试电路

授权

摘要

本实用新型提供一种IGBT驱动板老化测试电路,至少包括：控制组件，驱动板，保护组件以及电源；其中控制组件的一端连接驱动板，控制组件内产生间断的变频脉冲并向驱动板输送；保护组件内置电流采样电路和电源切换电路，电流采样电路的一端连接驱动板并采集驱动板的实时老化电流，另一端连接控制组件并传输驱动板的实时老化电流给控制组件；电源切换电路的一端连接控制组件，一端连接电源，另一端连接驱动板，根据控制组件的指令导通或截止电源和驱动板之间的供电电路，相较传统的IGBT驱动板老化测试电路增加动态老化功能和过流过压保护功能。

基本信息

专利标题：

IGBT驱动板老化测试电路

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020113349.7

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-01-17

授权号：

CN212229096U

授权日：

2020-12-25

发明人：

施贻蒙徐晓彬李军丁文建朱丹丹

申请人：

杭州飞仕得科技有限公司

申请人地址：

浙江省杭州市拱墅区祥兴路100号2幢4层

代理机构：

无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

张欢勇

优先权：

CN202020113349.7

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28