老化测试电路及老化测试平台
授权
摘要
本实用新型公开了一种老化测试电路及老化测试平台，所述电路包括待测一体板、电子负载、LED负载及控制模块，待测一体板的直流电源输出端与电子负载连接，待测一体板的背光输出端与LED负载连接，控制模块分别与电子负载和LED负载连接；待测一体板，用于通过电子负载进行电源输出老化检测，以及通过LED负载进行背光输出老化检测；控制模块，用于向电子负载发送模式调整信号，以调整电子负载的负载模式；控制模块，还用于向LED负载发送LED调整信号，以调整LED负载的带载参数。本实用新型能够通过电子负载和LED负载对待测一体板进行综合老化测试，降低老化测试的操作步骤，提升检测效率。
基本信息
专利标题 ：
老化测试电路及老化测试平台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022150881.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-25
授权号 ：
CN213457147U
授权日 ：
2021-06-15
发明人 ：
高峰杨楷
申请人 ：
深圳创维-RGB电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区深南大道创维大厦A座13-16楼
代理机构 ：
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
代理人 ：
胡海国
优先权 ：
CN202022150881.9
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/40 G01R31/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-06-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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