老化测试装置、老化测试治板及老化测试机柜
授权
摘要
本实用新型公开了一种老化测试装置、老化测试治板及老化测试机柜，老化测试装置包括：主控模块、第一网口模块和第二网口模块、数据交换模块、POE供电及DC输出模块、DC‑DC转换模块和DC电源接口。老化测试治板包括：基板和安装在基板上的老化测试装置。老化测试机柜，包括柜体，柜体内设置有多个安装层，安装层内分别安装老化测试治板。老化测试装置和测试设备都无需连接传统的插座进行供电，能够减少布线，更好的利用老化房的使用空间，提高同时进行老化测试的设备数量，也能更好的实现老化的效果。
基本信息
专利标题 ：
老化测试装置、老化测试治板及老化测试机柜
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122640184.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-29
授权号 ：
CN216209559U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
苏涛李正王斌蒋汉柏郭敏
申请人 ：
湖南恒茂高科股份有限公司
申请人地址 ：
湖南省株洲市醴陵市陶瓷科技工业园B区
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
王本晋
优先权 ：
CN202122640184.6
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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