老化测试板
授权
摘要
本实用新型公开了一种老化测试板，包括：基座，所述基座的上表面设置有容纳槽；若干测试座，设置在所述容纳槽内，用于对待测试件进行老化测试；导电连接件，设置在所述容纳槽内，用于将若干所述测试座电连接；盖板，盖设在所述基座的上表面，且设置有供若干所述测试座的部分伸出的通孔；其中，所述基座和所述盖板采用耐高温塑料材料制成，所述导电连接件采用导电金属条制成。本实用新型可以避免使用PCB板、避免使用传统的焊锡工艺，使得老化测试板可以耐高温，且安全可靠。
基本信息
专利标题 ：
老化测试板
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922300883.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-20
授权号 ：
CN211402620U
授权日 ：
2020-09-01
发明人 ：
何可人卢毅何康宁林辉衡军
申请人 ：
无锡市新丝路测控技术有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市滨湖区蠡园开发区标准写字楼A6
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201922300883.9
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-09-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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