老化测试盒及双侧老化测试柜
授权
摘要
本实用新型公开一种老化测试盒及双侧老化测试柜，其中，该老化测试盒包括底座和电路板。所述底座设置有用于放置电子产品的产品放置槽和用于与所述电子产品的充电插口连接的接口，且一个所述产品放置槽对应一个所述接口，所述底座至少相对的两侧面设置有连接器；所述电路板设置于所述底座内，所述电路板分别与所述接口以及所述连接器连接。老化测试盒通过设置在相对两侧的连接器与双侧老化测试柜连接，方便适配双侧老化测试柜，使得双侧老化测试柜不需要设置旋转机构，能够简化双侧老化测试柜结构，减小双侧老化测试柜的尺寸，减少双侧老化测试柜的占地面积。
基本信息
专利标题 ：
老化测试盒及双侧老化测试柜
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922068707.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-26
授权号 ：
CN211402572U
授权日 ：
2020-09-01
发明人 ：
王雪成
申请人 ：
深圳市万福达精密设备股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区泰然工业区深业泰然雪松大厦B座7C（仅限办公）
代理机构 ：
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
代理人 ：
晏波
优先权 ：
CN201922068707.7
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-09-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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