老化测试柜
授权
摘要
本实用新型涉及测试设备技术领域，尤其涉及一种老化测试柜，包括机柜、设置于机柜底部的供电控制模组、设置于机柜顶部的加热模组、铰接于机柜前端的柜门，所述机柜内腔的两侧壁分别设有托架，两侧托架共同托设有用于放置被测产品的托板，加热模组的两侧、机柜内腔的一侧底部与机柜内腔的另一侧顶部分别设有导流风扇；本实用新型能够使被测产品受热均匀且处于一个恒温测试状态，测试数据更为准确。
基本信息
专利标题 ：
老化测试柜
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020423916.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-27
授权号 ：
CN211904179U
授权日 ：
2020-11-10
发明人 ：
尉刚
申请人 ：
深圳市微特自动化设备有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明新区公明街道上村莲塘工业城C区21栋一楼
代理机构 ：
东莞市十方专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
罗伟平
优先权 ：
CN202020423916.9
主分类号 ：
G01D11/00
IPC分类号 ：
G01D11/00 B01L1/00 B01L7/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D11/00
非专用于特定变量的测量装置的组件
法律状态
2020-11-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN211904179U.PDF
PDF下载
