一种老化测试座及老化测试装置

授权

摘要

本实用新型属于半导体技术领域，公开了一种老化测试座及老化测试装置。该老化测试座包括：底座机构；压接机构，其设置于底座机构上，压接机构被配置为承载待测试工件并能够分别电连接于待测试工件和PCB板；翻盖机构，翻盖机构转动设置于底座机构上并与其可拆卸连接；压头机构，其转动设置于翻盖机构上并能够抵接于待测试工件的顶面，压头机构被配置为相对于待测试工件的位置可调，使得压头机构的底面和待测试工件的顶面相互平行设置。该老化测试座的压头机构可以根据待测试工件的位置进行自我位置调节，以达到适应待测试工件的目的，避免出现压头机构在测试过程中损伤待测试工件的情况，保证了成品质量。

基本信息

专利标题：

一种老化测试座及老化测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020448153.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-03-31

授权号：

CN212008835U

授权日：

2020-11-24

发明人：

季广华王坚

申请人：

上海捷策创电子科技有限公司

申请人地址：

上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区龙东大道3000号5号楼302室-5325

代理机构：

北京品源专利代理有限公司

代理人：

胡彬

优先权：

CN202020448153.3

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28