PCBA老化测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了PCBA老化测试装置,包括老化箱,老化箱内设置有电路板放置柜,老化箱上表面固定安装有加热盒,老化箱侧表面固定安装有蒸汽盒,抽拉门表面均匀开设有多组矩型开口,矩型开口内活动卡合有矩型门板,矩型门板内侧表面下端固定安装有滤板,抽拉门内侧表面与背板之间在矩型门板下方两侧端均固定安装有第二导轨板,矩型门板两侧端分别滑动设置在第二导轨板上,滤板上表面均匀固定安装有多组挡板,当需要取出某一类电路板时,只需将该电路板位置的L型拉板提起,然后将矩型门板拉出,即可取出该种类电路板,由于没有整个拉出抽拉门,从而能够降低老化箱中的环境的变化,保证其他种类电路板的老化过程不被影响,从而保证了电路板的老化效果。
基本信息
专利标题 :
PCBA老化测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922270896.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-17
授权号 :
CN211669320U
授权日 :
2020-10-13
发明人 :
周志陈雪华
申请人 :
广州三晶智能电子技术有限公司
申请人地址 :
广东省广州市高新技术产业开发区科学城开源大道11号B1栋第六层
代理机构 :
北京盛凡智荣知识产权代理有限公司
代理人 :
李青
优先权 :
CN201922270896.6
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28 G01R1/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-10-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载