一种老化测试治具
授权
摘要
本实用新型公开了一种老化测试治具，包括：隔热板和多个温度传感器；所述温度传感器嵌入所述隔热板上，所述温度传感器与所述通讯终端产品的底壳贴合；所述温度传感器通过温度采集控制器与电脑上位机连接。本申请的老化测试治具可以实时对通讯终端的产品进行测量。
基本信息
专利标题 ：
一种老化测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021076669.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-12
授权号 ：
CN212059141U
授权日 ：
2020-12-01
发明人 ：
李给武冯星宇
申请人 ：
深圳市华芯飞通讯有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区西乡街道劳动社区宝盛工业园深圳名优工业产品展示采购中心B座2区四楼408号
代理机构 ：
深圳市中融创智专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
叶垚平
优先权 ：
CN202021076669.6
主分类号 ：
G01K1/12
IPC分类号 ：
G01K1/12 G01K1/14 G05D23/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01K
温度测量；热量测量；未列入其他类目的热敏元件
G01J9/00
测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长
G01J9/04
通过差拍同一光源但频率不同的两个波而测量所获得的较低频率的相位偏移
G01K1/12
防止过热损坏的
法律状态
2020-12-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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