一种稳定型IC老化测试治具
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摘要
一种稳定型IC老化测试治具，其包括导热器，加热器，温度传感器，散热器，加强散热器，以及控制模块。IC产品夹设在所述温度传感器和所述导热器之间，通过加热器加热所述导热器，导热器把热量传导给IC产品，并由所述温度传感器测量IC产品的温度。所述散热器包括多个设置在所述散热器上的散热鳍片。每个相邻散热鳍片之间间隔设置且间距相等，从而减小空气阻力有助于所述散热鳍片壁面充分换热，提高散热效率。所述温度传感器通过面检测的方式进行温度的检测，更准确且误差率小。所述控制模块对预设的测试温度和上限温度与IC产品表面温度进行比较，通过比较结果启动和关闭所述加热器和所述加强散热器，使IC产品的温度保持恒定，从而达到稳定的要求。
基本信息
专利标题 ：
一种稳定型IC老化测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021949209.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-08
授权号 ：
CN213091819U
授权日 ：
2021-04-30
发明人 ：
李奇王华伟
申请人 ：
浙江邦睿达科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省嘉兴市嘉善县姚庄镇宝群西路11号1层
代理机构 ：
北京中政联科专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
燕宏伟
优先权 ：
CN202021949209.X
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-04-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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