本实用新型提供了一种测试治具，包括上模和下模，上模和下模上均设有测试针，上模和下模均包括支撑柱、对位针、多个第一导向板和设于多个第一导向板之间的多个第二导向板，第一导向板与第二导向板堆叠设置；相邻两个第二导向板之间留有间隙，支撑柱贯穿第二导向板，测试针贯穿第一导向板和第二导向板；上模的靠近下模的一侧设有定位孔或/和定位柱，下模的靠近上模的一侧设有定位柱或/和定位孔，上模与下模之间通过定位柱伸入定位孔定位。本实用新型提供的测试治具，提高了上模与下模之间的对位精度及PCB板的定位精度，从而提高了测试针的测试精度。