本实用新型涉及一种测试治具，用于对待测工件进行测试，所述测试治具包括：本体，所述本体包括测试探针，所述测试探针用于与所述待测工件相抵接。转接件，所述转接件固定在所述本体上，所述转接件能够与所述测试探针电性连接。及辅助单板，所述辅助单板与所述转接件可拆卸连接。通过将辅助单板与转接件可拆卸连接，从而实现快速实现辅助单板在转接件上的安装与拆卸，起到了提高辅助单板更换速度的作用，避免待测单板的测试因存在较长时间的等待而导致延后，尽可能地压缩辅助单板的更换时间，最大限度的提高测试治具的工作效率。并且，可以有效避免辅助单板在绑定安装与强制拆卸过程中产生的损坏，因而也可以降低测试治具的测试成本。