测试治具
授权
摘要
一种用于天线测试作业的测试治具，于一用以置放具第一天线部的电子结构的基座单元上配置一具有第二天线部的盖件单元，且该盖件单元以一非金属材的中介部压合该电子结构以间隔该第二天线部与该第一天线部，俾于该电子结构进行天线测试作业时，避免发生金属屏蔽效应，且可提供一无线测试环境。
基本信息
专利标题 ：
测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110879315A
申请号 ：
CN201811086183.8
公开（公告）日 ：
2020-03-13
申请日 ：
2018-09-18
授权号 ：
CN110879315B
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
方柏翔谢承财陈冠达卢盈维
申请人 ：
矽品精密工业股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾台中市潭子区大丰路三段123号
代理机构 ：
北京戈程知识产权代理有限公司
代理人 ：
程伟
优先权 ：
CN201811086183.8
主分类号 ：
G01R29/10
IPC分类号 ：
G01R29/10 G01R1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2022-05-03 ：
授权
2020-04-07 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 29/10
申请日 : 20180918
申请日 : 20180918
2020-03-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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