本实用新型公开一种测试治具，其用以对封装件进行电性测试，该测试治具包括测试座、定位台以及基座。测试座包括用以容置所述封装件的插槽以及设置于所述插槽内的测试接点。定位台可移动地设置于所述测试座上方，并包括用以固定所述封装件的定位槽以及吸嘴，其中所述定位槽包括设置所述吸嘴的底面以及经配置以与所述封装件接触的导引面，且所述导引面与所述底面之间的夹角大于大体上90度。基座设置于所述测试座上并包括暴露所述测试座的开口，所述定位台经配置以朝所述基座移动，以使固定于所述定位槽的所述封装件容置于所述插槽内并与所述测试接点电连接。