测试治具
授权
摘要

本申请的测试治具包括底座、第一固定座、第一治具板、第二固定座及第二治具板。底座二侧分别包括横向设置的第一底座滑移机构、纵向设置的第二底座滑移机构。第一、第二固定座分别包括第一、第二固定座滑移机构,分别对应滑移于第一、第二底座滑移机构。第一、第二治具板分别设置于第一、第二固定座上。通过第一固定座横向微调移动,第二固定座纵向微调移动,在测试治具两侧的对接结构(第一电连接器与第二电连接器)进行微调移动、对接测试,可增加测试数据的稳定度、可靠度。

基本信息
专利标题 :
测试治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020689048.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-29
授权号 :
CN212410642U
授权日 :
2021-01-26
发明人 :
徐佥昱林世东廖瑞庭
申请人 :
台湾立讯精密有限公司
申请人地址 :
中国台湾台北市内湖区内湖路1段252号2楼
代理机构 :
北京彩和律师事务所
代理人 :
张红春
优先权 :
CN202020689048.9
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/28  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-01-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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