测试治具的电路结构和测试治具

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摘要

一种测试治具的电路结构和测试治具。所述测试治具的电路结构包括：稳压电源，稳压电源具有正极和负极；测试电路，测试电路包括正极接入端、负极接入端和多个测试顶针；低压差线性稳压器，低压差线性稳压器包括正极输入端、负极输入端、使能输入端、正极输出端和负极输出端；低压差线性稳压器的正极输入端连接稳压电源的正极，低压差线性稳压器的负极输入端连接稳压电源的负极，低压差线性稳压器的正极输出端连接测试电路的正极接入端，低压差线性稳压器的负极输出端连接测试电路的负极接入端；行程开关，行程开关的第一端连接稳压电源的正极，行程开关的第二端连接低压差线性稳压器的使能输入端。测试治具的电路结构能够防止浪涌。

基本信息

专利标题：

测试治具的电路结构和测试治具

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920665633.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-05-10

授权号：

CN210071881U

授权日：

2020-02-14

发明人：

苏军叁张国兴

申请人：

厦门骐俊物联科技股份有限公司

申请人地址：

福建省厦门市思明区塔埔东路167号观音山国际商务营运中心8楼803D单元

代理机构：

厦门仕诚联合知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

吴圳添

优先权：

CN201920665633.2

主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R1/04 G01R1/36 G01R1/30