集成电路的测试和老化系统
授权
摘要

公开了一种测试集成电路的系统。所述系统的接触器板具有引脚,所述引脚具有接触电源和信号配电盘上的端子的端部。引脚的相反端与未分割晶圆上的晶片端子接触。配电盘还携带多个电容,至少一个电容对应于未分割晶圆上的各个晶片。各个电容可以包括两个基本上平坦的平面电容导体以及该电容导体之间的介电层。可替换地,电容可以为安装到配电盘并且位于其上方的分立元件,在此情况下在接触器基底中形成对应的电容开口以在配电盘和接触器板被结合在一起时容纳电容。还提供了由聚合体材料制成的多个保险丝。所述聚合体材料在保险丝温度升高时限制流过其中的电流,并且在保险丝温度降低时增加流过其中的电流。

基本信息
专利标题 :
集成电路的测试和老化系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101084447A
申请号 :
CN200580043204.2
公开(公告)日 :
2007-12-05
申请日 :
2005-12-07
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
S·E·林赛C·N·巴克R·J·波塞德尔
申请人 :
雅赫测试系统公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚
代理机构 :
北京润平知识产权代理有限公司
代理人 :
周建秋
优先权 :
CN200580043204.2
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2010-09-29 :
授权
2008-01-23 :
实质审查的生效
2007-12-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN101084447B.PDF
PDF下载
2、
CN101084447A.PDF
PDF下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332