集成电路芯片测试系统

授权

摘要

本实用新型提供一种集成电路芯片测试系统，涉及集成电路芯片测试技术领域。该系统包括：第一测试设备、第二测试设备、采集设备、存储设备和计算设备，第一测试设备、采集设备、存储设备和第二测试设备之间依次电连接，且计算设备分别与第一测试设备、第二测试设备、采集设备和存储设备电连接；计算设备用于对第一测试设备、第二测试设备、采集设备和存储设备进行控制，采集设备在第一测试设备接入预设集成电路芯片时，采集针对预设集成电路芯片的运行信号，并将运行信号存储至存储设备；第二测试设备从存储设备获取运行信号，并基于运行信号对待测集成电路芯片进行测试。本公开能够提高测试待测集成电路芯片的准确性。

基本信息

专利标题：

集成电路芯片测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921496168.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-09-09

授权号：

CN210665952U

授权日：

2020-06-02

发明人：

张悦

申请人：

合肥悦芯半导体科技有限公司

申请人地址：

安徽省合肥市经济区天门路以西锦绣大道以南天门湖工业园1幢厂房

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

刘亚飞

优先权：

CN201921496168.0

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28