芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法
实质审查的生效
摘要
本申请提出一种芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法，其中，芯片测试系统包括：芯片和测试机，其中，芯片包括控制器、引脚、数据选择器和测试寄存器；控制器，用于接收测试机发送的模式切换指令，并根据模式切换指令控制数据选择器切换至测试模式；数据选择器，用于在数据选择器切换至测试模式时，控制数据选择器的第一输入端和数据选择器的输出端导通；控制器，还用于接收测试机发送的测试指令，并根据测试指令控制测试寄存器输出测试值；测试机，用于采集引脚的第二端输出的电压，并根据电压和测试指令，生成引脚的第一端的测试结果。由此，能够对芯片的引脚进行测试，且能够在芯片设计阶段引入测试逻辑，提高了测试速度和测试准确率。
基本信息
专利标题 ：
芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114518524A
申请号 ：
CN202210102731.1
公开（公告）日 ：
2022-05-20
申请日 ：
2022-01-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
田健飞王远唐平
申请人 ：
爱芯元智半导体（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市杨浦区双联路158号1幢11层B区1190室
代理机构 ：
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杜月
优先权 ：
CN202210102731.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-07 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220127
申请日 : 20220127
2022-05-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
