芯片测试装置、测试头以及芯片测试系统
授权
摘要
本申请涉及一种芯片测试装置、测试头以及芯片测试系统，该芯片测试装置包括控制模块、输出模块和输入模块；控制模块分别与输出模块和输入模块电连接，用于对待测试芯片进行测试操作和/或烧录操作；输入模块包括第一接口芯片，第一接口芯片包括第一物理接口和第一输出端口，第一物理接口与外部终端或外部电源电连接，第一输出端口与控制模块电连接；第一接口芯片用于在第一物理接口电连接外部电源时，对控制模块进行供电，以及在第一物理接口电连接外部终端时，将外部终端传输的数据传输给控制模块。通过本申请，解决了相关技术中芯片测试装置无法兼顾供电和数据传输功能的问题，实现了保证芯片测试装置可以兼顾供电和数据传输功能的技术效果。
基本信息
专利标题 ：
芯片测试装置、测试头以及芯片测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121577956.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-07-12
授权号 ：
CN216285573U
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
杭州旗捷科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市滨江区滨安路1180号1幢4层421室
代理机构 ：
杭州华进联浙知识产权代理有限公司
代理人 ：
金无量
优先权 ：
CN202121577956.X
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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