芯片测试转接板和芯片转接测试系统

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摘要

本实用新型适应于芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试转接板和芯片转接测试系统，其中，芯片测试转接板包括第一排线接口、第二排线接口和连接通道，连接通道将两个排线接口相同类型的信号接口连通，芯片测试时，第一排线接口通过排线连接第一芯片测试机，第二排线接口通过排线连接第二芯片测试机的测试卡，从而实现第一芯片测试机与第二芯片测试机的测试卡转接兼容使用，无需重新制卡，提高不同芯片测试机和测试卡的利用率，降低了资源浪费。

基本信息

专利标题：

芯片测试转接板和芯片转接测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021008475.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-06-04

授权号：

CN212749147U

授权日：

2021-03-19

发明人：

刘伟源孔晓琳刘伟刘乐王健云星陈友平

申请人：

深圳米飞泰克科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司

代理人：

闫冰冰

优先权：

CN202021008475.2

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R1/04