芯片测试系统
授权
摘要
本申请提供一种芯片测试系统，包括：信号源；第一偏置器，其一端与信号源相连；源调谐器，其输入端与第一偏置器的另一端相连；芯片测试夹具，包括三个测量通路，其输入端与源调谐器的输出端相连；负载调谐器，其输入端与芯片测试夹具的输出端相连；第二偏置器，其一端与负载调谐器的输出端相连；耦合器，其耦合端与第二偏置其的另一端相连；功率计，与耦合器的直通输出端相连；稳压直流电源，分别与第一偏置器、第二偏置器的供电接口相连；频谱仪，与耦合器的耦合端相连。通过夹具的三个测量通路分别得到对应的参数文件，经过单片机运算可以得到芯片测试参数，载入到负载牵引系统中便可直接得到芯片实际负载阻抗。
基本信息
专利标题 ：
芯片测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121960041.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-08-19
授权号 ：
CN216351058U
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
朱魏龙华
申请人 ：
深圳飞骧科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区南头街道大汪山社区南光路286号水木一方大厦1栋1601
代理机构 ：
北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
项荣
优先权 ：
CN202121960041.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04 G01R31/54 G01R31/52
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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