雷达芯片的测试系统

授权

摘要

本发明揭示了一种雷达芯片的测试系统。所述测试系统包括：信号源，用于为待测雷达芯片提供射频信号；频谱仪，用于测量待测雷达芯片的发射信号；测试板，用于支持待测雷达芯片工作，并将待测雷达芯片的射频输出端口和射频输入端口引出；射频接口模块，包括用于将测试板上待测雷达芯片的射频输入端口连接至信号源的第一功分器、以及将测试板上待测雷达芯片的射频输出端口连接至频谱仪的第二功分器；ATE机台，用于获取所述频谱仪和/或待测雷达芯片的测量数据，以判断待测雷达芯片的发射性能和/或接收性能是否达到设定目标。本发明的优点包括能够实现多路相同信号的串行测试以及多路不同信号的并行测试，提高测试效率，将低测试成本。

基本信息

专利标题：

雷达芯片的测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111426940A

申请号：

CN202010307880.2

公开（公告）日：

2020-07-17

申请日：

2020-04-17

授权号：

CN111426940B

授权日：

2022-05-13

发明人：

江明陈勇修剑平林越

申请人：

矽典微电子（上海）有限公司

申请人地址：

上海市浦东新区自由贸易试验区张衡路666弄1号207室

代理机构：

苏州三英知识产权代理有限公司

代理人：

周仁青

优先权：

CN202010307880.2

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28