芯片管脚测试系统
授权
摘要
本申请涉及一种芯片管脚测试系统，通过检测待测芯片管脚的第一电流以及与待测芯片相同情况下参照芯片管脚的第二电流，根据第一电流与第二电流之间的对比结果来判断待测芯片管脚工作是否异常，并非仅通过检测芯片管脚的反向导通电压来判断芯片管脚是否异常，在即使检测到反向导通电压的情况下可根据检测到的电流情况准确判断芯片管脚是否异常，从而实现精准确定芯片管脚的工作状态。
基本信息
专利标题 ：
芯片管脚测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122447900.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-11
授权号 ：
CN216646725U
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
马百晖
申请人 ：
深圳市广通远驰科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区打石一路深圳国际创新谷六栋A座1301
代理机构 ：
深圳智汇远见知识产权代理有限公司
代理人 ：
蒋学超
优先权 ：
CN202122447900.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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