芯片测试系统

授权

摘要

该实用新型涉及一种芯片测试系统，能够满足日益增长的芯片测试需求。其中，所述芯片测试系统，包括：测试主板，设置有物理接口单元以及存储器控制器，所述测试主板用于根据待测试芯片的种类配置所述物理接口单元以及存储器控制器；测试子板，设置有芯片种类区分器及安装位，其中所述芯片种类区分器用于区分所述待测试芯片的种类，所述安装位用于安装所述待测试芯片；所述测试主板和测试子板电连接。

基本信息

专利标题：

芯片测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921666029.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-09-30

授权号：

CN210835151U

授权日：

2020-06-23

发明人：

马茂松林峰许小峰

申请人：

长鑫存储技术有限公司

申请人地址：

安徽省合肥市蜀山区经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室

代理机构：

上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

孙佳胤

优先权：

CN201921666029.8

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28