电源管理芯片测试电路及电源管理芯片测试系统

专利权的主动放弃

摘要

一种电源管理芯片测试电路及电源管理芯片测试系统，通过加入测试机、直流驱动检测电路以及至少一个电压校准电路，从而实现可同时接入至少一个电源管理芯片并对其完成直流驱动测试和电压校准测试，从而解决了传统的技术方案中存在无法同时接入多个电源管理芯片从而造成检测效率低的问题。

基本信息

专利标题：

电源管理芯片测试电路及电源管理芯片测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921843761.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-10-28

授权号：

CN211374961U

授权日：

2020-08-28

发明人：

李安平邓海军王健舒雄云星李建强孔晓琳王英广

申请人：

深圳安博电子有限公司

申请人地址：

广东省深圳市龙岗区宝龙工业区清风大道与宝龙四路交叉口东北侧清风路28号

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司

代理人：

胡鹏飞

优先权：

CN201921843761.8

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28