芯片测试电路
授权
摘要
本申请实施例提供了一种芯片测试电路，芯片测试电路包括：现场可编程逻辑门阵列FPGA、判断单元以及多个信号控制单元，FPGA分别与判断单元以及多个信号控制单元电连接，判断单元与多个信号控制单元电连接；多个信号控制单元中的每个信号控制单元均用于在FPGA的控制下为待测芯片供电以及从待测芯片获取待测电信号；判断单元用于接收多个信号控制单元中每个信号控制单元的电路检测电信号，并对其是否处在正常范围进行判断。本申请实施例提供的芯片测试电路可以在为多个待测芯片供电时，同时从多个待测芯片获取待测电信号，从而可以对多个待测芯片同时进行测试，与现有技术相比，负载待测芯片的能力较强，且测试效率较高。
基本信息
专利标题 ：
芯片测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020156831.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-06
授权号 ：
CN211905587U
授权日 ：
2020-11-10
发明人 ：
张悦
申请人 ：
合肥悦芯半导体科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济区天门路以西锦绣大道以南天门湖工业园1幢厂房
代理机构 ：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
唐正瑜
优先权 ：
CN202020156831.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-11-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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