电阻芯片的测试电路、测试装置和测试系统

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摘要

本实用新型适用于测试技术领域，尤其涉及一种电阻芯片的测试电路、测试装置和测试系统，其中，测试电路包括电源模块、恒流源模块、电压检测模块、主控模块和显示模块，测试时，恒流源模块根据主控模块输出的电流控制信号输出预设大小的电流信号至待测电阻芯片，电压检测模块对待测电阻芯片的电压进行检测，并判断待测电阻芯片的电压是否在预设电压阈值内，并反馈测试结果以及待测电阻芯片的电压至主控模块，主控模块获取各反馈信号并控制显示模块显示对应的测试结果，测试电路通过施加电流并获取待测电阻芯片的电压确定待测芯片的良好状态，测试方法简单、效率高，同时结构简单，降低了设计成本。

基本信息

专利标题：

电阻芯片的测试电路、测试装置和测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020943174.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-05-28

授权号：

CN213302427U

授权日：

2021-05-28

发明人：

王英广韦敏荣栗伟斌李建强李晓白

申请人：

深圳米飞泰克科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司

代理人：

胡明强

优先权：

CN202020943174.2

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G05F1/575 G05F1/565 G01R27/14 G01R1/28