通用芯片开短路测试电路
授权
摘要
本实用新型公开了一种通用芯片开短路测试电路，该电路包括单片机、DAC电路、恒流源电路、三态驱动电路、芯片座及高精度ADC采样电路，所述单片机与三态驱动电路连接，该单片机还分别与DAC电路及高精度ADC采样电路连接并通信，所述恒流源电路分别与DAC电路的输出端、三态驱动电路的输出端、待测试芯片的输入端及高精度ADC采样电路的输入端连接。本实用新型的单片机通过高精度ADC采样电路读取待测试芯片的引脚的电压判断待测试芯片的引脚为开路或短路，结构简单，成本低。此外，本实用新型的单片机适用于测试20引脚以内待测试芯片的任意引脚的开短路，测试效率及稳定性高。
基本信息
专利标题 ：
通用芯片开短路测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921446281.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-02
授权号 ：
CN210720648U
授权日 ：
2020-06-09
发明人 ：
廖钰
申请人 ：
深圳市华力宇电子科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区航城街道黄田社区黄田杨贝工业区一期4栋201、301、402
代理机构 ：
深圳市宏德雨知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李捷
优先权 ：
CN201921446281.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-06-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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