一种开短路反向测试电路及图像传感器芯片测试装置
授权
摘要
本实用新型适用于电子检测领域，提供了一种一种开短路反向测试电路及图像传感器芯片测试装置，该电路包括：可调恒流源模块、电压采集模块、DAC模块、ADC模块及MCU模块，MCU模块控制可调恒流源模块生成反向测试负电流，并将其加载在DUT引脚，同时令DUT的接地引脚接地，电压采集模块采集DUT引脚电压，并通过ADC模块反馈至MCU模块判断DUT引脚内的ESD二极管是否存在开短路，输出开短路测试结果。本实用新型不改变芯片的接地端接地，直接在DUT引脚施加负电流，使各芯片保持了原有的最短走线接地，抑制了噪声及电磁干扰造成的地电位波动，从而保持测试电压的稳定，大幅提高了测试准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种开短路反向测试电路及图像传感器芯片测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921279899.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-08
授权号 ：
CN211148835U
授权日 ：
2020-07-31
发明人 ：
谭湘范艳根王林旺
申请人 ：
深圳市辰卓科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区西丽街道茶光路1089号深圳集成电路设计应用产业园301-1
代理机构 ：
深圳市赢源知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
胡明
优先权 ：
CN201921279899.X
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-07-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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