芯片测试电路系统
专利权的终止
摘要
本实用新型公开一种芯片测试电路系统，包括一控制单元和一用于连接待测芯片的键盘矩阵，所述键盘矩阵用于实现待测芯片不同管脚之间的短接，其特征在于所述键盘矩阵由复数个模拟开关模块组成。本实用新型的有益效果在于：用具有开关功能的集成电路来代替传统采用的电子继电器，简化了电路结构，使控制更方便，并且具扩展能力，应用更灵活。采用模拟开关不仅降低了成本，还有利于降低整个系统的功耗。
基本信息
专利标题 ：
芯片测试电路系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200720181786.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2007-10-23
授权号 ：
CN201096869Y
授权日 ：
2008-08-06
发明人 ：
贾力江猛
申请人 ：
苏州市华芯微电子有限公司
申请人地址 ：
215011江苏省苏州市新区滨河路625号A座3楼
代理机构 ：
北京华夏博通专利事务所
代理人 ：
王建国
优先权 ：
CN200720181786.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2015-12-09 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101637492914
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利号 : ZL2007201817867
申请日 : 20071023
授权公告日 : 20080806
终止日期 : 20141023
号牌文件序号 : 101637492914
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利号 : ZL2007201817867
申请日 : 20071023
授权公告日 : 20080806
终止日期 : 20141023
2011-07-27 ：
专利实施许可合同备案的生效、变更及注销
专利实施许可合同备案的生效号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101116141960
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利申请号 : 2007201817867
专利号 : ZL2007201817867
合同备案号 : 2011990000413
让与人 : 苏州华芯微电子股份有限公司
受让人 : 工业和信息化部电子第五研究所华东分所(中国赛宝(华东)实验室)
实用新型名称 : 芯片测试电路系统
申请日 : 20071023
授权公告日 : 20080806
许可种类 : 独占许可
备案日期 : 20110603
号牌文件序号 : 101116141960
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利申请号 : 2007201817867
专利号 : ZL2007201817867
合同备案号 : 2011990000413
让与人 : 苏州华芯微电子股份有限公司
受让人 : 工业和信息化部电子第五研究所华东分所(中国赛宝(华东)实验室)
实用新型名称 : 芯片测试电路系统
申请日 : 20071023
授权公告日 : 20080806
许可种类 : 独占许可
备案日期 : 20110603
2010-12-01 ：
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101047387451
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利号 : ZL2007201817867
变更事项 : 专利权人
变更前 : 苏州市华芯微电子有限公司
变更后 : 苏州华芯微电子股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 215011 江苏省苏州市新区滨河路625号A座3楼
变更后 : 215011 江苏省苏州市高新区向阳路198号
号牌文件序号 : 101047387451
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利号 : ZL2007201817867
变更事项 : 专利权人
变更前 : 苏州市华芯微电子有限公司
变更后 : 苏州华芯微电子股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 215011 江苏省苏州市新区滨河路625号A座3楼
变更后 : 215011 江苏省苏州市高新区向阳路198号
2008-08-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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