芯片测试座
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要
一种芯片测试座，所述芯片测试座包括：芯片座，所述芯片座用于安装所述待测试/烧录芯片，所述芯片座的颜色为第一颜色；标识件，所述标识件设置在所述芯片座上，所述标识件的颜色为第二颜色，所述第二颜色不同于所述第一颜色，可供视觉装置准确识别所述芯片测试座上是否放置有待测试/烧录芯片。
基本信息
专利标题 ：
芯片测试座
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020242266.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-03
授权号 ：
CN212568852U
授权日 ：
2021-02-19
发明人 ：
梁民
申请人 ：
鸿富锦精密电子（天津）有限公司
申请人地址 ：
天津市滨海新区经济技术开发区西区北大街36号
代理机构 ：
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司
代理人 ：
孙芬
优先权 ：
CN202020242266.8
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04 G01R31/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2022-05-27 ：
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01R 1/04
变更事项 : 专利权人
变更前 : 鸿富锦精密电子（天津）有限公司
变更后 : 富联精密电子（天津）有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 300457 天津市滨海新区经济技术开发区西区北大街36号
变更后 : 300457 天津市滨海新区经济技术开发区西区北大街36号
变更事项 : 专利权人
变更前 : 鸿富锦精密电子（天津）有限公司
变更后 : 富联精密电子（天津）有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 300457 天津市滨海新区经济技术开发区西区北大街36号
变更后 : 300457 天津市滨海新区经济技术开发区西区北大街36号
2021-02-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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