芯片托盘套件及芯片测试设备
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种芯片托盘套件及芯片测试设备。芯片测试设备包含芯片托盘套件。芯片托盘套件包含托盘、多个芯片固定件及多个辅助插入件，托盘具有多个托盘穿孔，多个芯片固定件可拆卸固定设置于托盘，且各个芯片固定件位于各个托盘穿孔中，各个辅助插入件可拆卸地固定设置于各个芯片固定件的一侧，且各个辅助插入件的一部分位于各个芯片固定件的固定穿孔中，而各个辅助插入件能限制位于芯片固定件的芯片容槽中的芯片的活动范围。
基本信息
专利标题 ：
芯片托盘套件及芯片测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114441928A
申请号 ：
CN202011205343.3
公开（公告）日 ：
2022-05-06
申请日 ：
2020-11-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
蔡振龙基因·罗森塔尔
申请人 ：
第一检测有限公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
隆天知识产权代理有限公司
代理人 ：
聂慧荃
优先权 ：
CN202011205343.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20201102
申请日 : 20201102
2022-05-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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