一种芯片测试托盘
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片测试托盘,包括托盘主体、老化板和转接板组件,老化板设有插座。转接板组件包括板体、存储器、主控I C,以及用于安装芯片的安装座;板体插接于插座上,存储器、主控I C和安装座均固定于板体上。本实用新型通过设计的带有主控I C的板体,测试时只需要将待测芯片安装在板体的安装座上即可,测试方便,可以兼容测试多种芯片的,兼容性高。另外,在板体上还设有散热件,且其安装完成后处于存储器和主控I C的上方,因此,在工作时,散热效果好,避免了测试时温度过高,影响测试的稳定性,大大降低了故障率。
基本信息
专利标题 :
一种芯片测试托盘
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122838953.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-18
授权号 :
CN216670184U
授权日 :
2022-06-03
发明人 :
韩成
申请人 :
东莞记忆存储科技有限公司
申请人地址 :
广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区工业东路32号
代理机构 :
深圳市精英专利事务所
代理人 :
李燕娥
优先权 :
CN202122838953.3
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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