一种芯片测试托盘
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片测试托盘，包括托盘主体、老化板和转接板组件，老化板设有插座。转接板组件包括板体、存储器、主控I C，以及用于安装芯片的安装座；板体插接于插座上，存储器、主控I C和安装座均固定于板体上。本实用新型通过设计的带有主控I C的板体，测试时只需要将待测芯片安装在板体的安装座上即可，测试方便，可以兼容测试多种芯片的，兼容性高。另外，在板体上还设有散热件，且其安装完成后处于存储器和主控I C的上方，因此，在工作时，散热效果好，避免了测试时温度过高，影响测试的稳定性，大大降低了故障率。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片测试托盘
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122838953.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-18
授权号 ：
CN216670184U
授权日 ：
2022-06-03
发明人 ：
韩成
申请人 ：
东莞记忆存储科技有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区工业东路32号
代理机构 ：
深圳市精英专利事务所
代理人 ：
李燕娥
优先权 ：
CN202122838953.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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