本发明提供一种芯片测试设备，包括工作台、芯片测试装置和搬运打标装置，芯片测试装置包括测试盒、探针阵列、顶板、顶升控制机构和移动控制机构，搬运打标装置包括搬运板、搬运控制机构、联动板、联动控制机构、转动盘、转动控制机构、真空吸嘴、相机、喷墨阀及打标控制机构，搬运控制机构可控制搬运板在X轴方向上和Y轴方向上移动，联动控制机构可控制联动板在Z轴方向上移动，打标控制机构可控制喷墨阀在Z轴方向上移动，转动控制机构可控制转动盘绕Z轴旋转，移动控制机构可控制顶板在Y轴方向上移动。本发明芯片测试设备集聚测试和不合格产品标识功能于一体，自动化程度高，测试工作效率高，且测试精确度高。