本发明公开一种光通讯用芯片测试设备，包括：测试机台、安装于测试机台上表面的测试机构和分别位于测试机构两侧并用于装载待测试芯片的上料座、下料座，其运料机构包括：基座、竖直安装于基座上的第一电机、水平滑台、转接板、第二电机和吸嘴杆，一位于第一电机下方的固定座安装于基座上，所述固定座的上方设置有夹持条、弧形齿条，此夹持条的前端与所述吸嘴杆上端夹持连接，夹持条的后端与弧形齿条通过一连杆连接，所述弧形齿条与第一电机输出轴上的齿轮啮合连接，且此弧形齿条的圆心与吸嘴杆的轴心重叠。本发明提高了对待测试芯片的角度进行计算、调整的精度以及在长时间高频使用后保持精度的稳定性，从而提高了对芯片测试的精度和稳定性。