异步通讯芯片时间参数的测试方法
发明专利申请公布后的驳回
摘要
本发明公开了一种异步通讯芯片时间参数的测试方法，首先，通过对被测芯片进行多次测试响应时间统计，计算出平均值；再统计一个等待时间后动作响应合格的概率；根据这个概率计算出概率为50％的中心点，与前面计算出的平均值相减测出等待时间。本发明可以提高测试时间参数的能力，用较低级的测试仪就可以测试高精度的时间信号，最大限度降低了新产品开发测试的成本。
基本信息
专利标题 ：
异步通讯芯片时间参数的测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1980101A
申请号 ：
CN200510111293.1
公开（公告）日 ：
2007-06-13
申请日 ：
2005-12-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
武建宏谢晋春
申请人 ：
上海华虹NEC电子有限公司
申请人地址 ：
201206上海市浦东新区川桥路1188号
代理机构 ：
上海浦一知识产权代理有限公司
代理人 ：
丁纪铁
优先权 ：
CN200510111293.1
主分类号 ：
H04B17/00
IPC分类号 ：
H04B17/00
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法律状态
2011-09-14 ：
发明专利申请公布后的驳回
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101183761738
IPC(主分类) : H04B 17/00
专利申请号 : 2005101112931
公开日 : 20070613
号牌文件序号 : 101183761738
IPC(主分类) : H04B 17/00
专利申请号 : 2005101112931
公开日 : 20070613
2007-08-08 ：
实质审查的生效
2007-06-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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