触摸按键芯片的OLED参数测试系统

授权

摘要

本实用新型涉及一种触摸按键芯片的OLED参数测试系统，包括电源模块、主控模块、按键切换模块和OLED显示模块，主控模块的测试端通过I2C总线与待测试的触摸按键芯片相连，电源模块包括稳压器U1，稳压器U1的输出端分别与主控模块的电源端、OLED显示模块的电源端相连；按键切换模块包括机械按键S1，机械按键S1与主控模块的信号输入端相连；OLED显示模块包括OLED显示屏，OLED显示屏的输入端与主控模块的信号输出端相连，OLED显示屏上设有当前触发按键的序号显示区、参考值显示区、环境值显示区、内振电容显示区和触发门槛值显示区。本申请能实时对被选触摸按键的参数进行相应参数显示，直观明了，便于操作人员对当前测试的触摸按键芯片的性能进行全面有效判断。

基本信息

专利标题：

触摸按键芯片的OLED参数测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021422738.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-17

授权号：

CN212749152U

授权日：

2021-03-19

发明人：

李惠胡川

申请人：

华瑞昇电子（深圳）有限公司

申请人地址：

广东省深圳市南山区科技园科苑路6号西803

代理机构：

深圳市汇信知识产权代理有限公司

代理人：

赵英杰

优先权：

CN202021422738.4

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R31/327 G09G3/00