按键测试装置及按键测试系统
授权
摘要

本实用新型实施例属于测试装置领域,尤其涉及一种按键测试装置及按键测试系统。本实用新型旨在解决将按键放置在测试槽内进行测试,按键与智能设备分离,测试效果不佳的技术问题。本实用新型实施例的按键测试装置及按键测试系统包括测试本体以及开关器件,测试本体的测试面上设置有安装通道,开关器件设置在安装通道背离测试面的一端;安装通道用于容置按键,且按键被按压时与开关器件接触;在按键测试时,伸缩柱被按压后与开关器件接触,开关器件抵顶伸缩柱,使得伸缩柱的受力状态与其安装在智能设备上的受力状态一致,以提高测试效果。

基本信息
专利标题 :
按键测试装置及按键测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022305862.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-15
授权号 :
CN213337924U
授权日 :
2021-06-01
发明人 :
王凯高鹏宇张川成卫卫汤昌宇
申请人 :
东莞华贝电子科技有限公司
申请人地址 :
广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区工业北路9号
代理机构 :
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 :
朱颖
优先权 :
CN202022305862.9
主分类号 :
G01R31/327
IPC分类号 :
G01R31/327  G01R1/04  G01M13/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/327
•电路断续器、开关或电路断路器的测试
法律状态
2021-06-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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