按键功能测试系统及方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明提供一种按键功能测试系统,用于各种按键盘上的按键功能测试,该系统包括一电源模块、一单片机控制模块及一发光模块。所述的电源模块包括一开关电源及多个电源转换电路。所述的单片机控制模块包括一参数设定子模块、一单片机、一显示子模块、一蜂鸣器、至少一电磁阀及至少一直动气缸。所述的发光模块包括一冷光板及多个发光二极管。所述的单片机可向上述电磁阀发送控制指令,以控制相应的直动气缸上下运动。本发明还提供一种按键功能测试方法。本发明所提供的按键功能测试系统及方法,采用单片机架构实现按键功能的自动测试,且测试速度快,效率高,安全可靠。
基本信息
专利标题 :
按键功能测试系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1948985A
申请号 :
CN200510100408.7
公开(公告)日 :
2007-04-18
申请日 :
2005-10-13
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
黄登聪兰军张生好余国俊
申请人 :
鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请人地址 :
518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200510100408.7
主分类号 :
G01R31/327
IPC分类号 :
G01R31/327 G05B19/04 G05B15/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/327
•电路断续器、开关或电路断路器的测试
法律状态
2009-06-24 :
发明专利申请公布后的视为撤回
2007-04-18 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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