按键寿命测试系统及方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要

本发明提供一种按键寿命测试系统,该系统包括:一按键输入模块、一单片机、一液晶显示模块、一气压调节器、至少一电磁阀及至少一直动气缸。其中按键输入模块用于接收开启和关闭测试系统的指令,及接收测试所需设定的参数。单片机包括一微处理器及一应用程序,该微处理器可调用并执行应用程序以向电磁阀下达控制指令。液晶显示模块用于显示所设定的测试总次数及正在进行的测试次数。气压调节器通过电磁阀给直动气缸供应所需气压使其上下运动,以控制按键盘上的按键上下运动来进行按键寿命的测试。本发明还提供一种按键寿命测试方法。本发明利用单片机架构代替PC架构,具备速度调节功能及断电保护功能,且应用灵活方便。

基本信息
专利标题 :
按键寿命测试系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1936615A
申请号 :
CN200510037500.3
公开(公告)日 :
2007-03-28
申请日 :
2005-09-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
黄登聪兰军吴自然
申请人 :
鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请人地址 :
518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200510037500.3
主分类号 :
G01R31/327
IPC分类号 :
G01R31/327  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/327
•电路断续器、开关或电路断路器的测试
法律状态
2009-05-27 :
发明专利申请公布后的视为撤回
2007-03-28 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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